Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-M

Spektrofotometr mikropłytkowy LTEK™ INNO-M jest urządzeniem nowej generacji XXI wieku, przeznaczonym do wszystkich badań zajmujących się absorbancją i luminescencją. Umożliwia różnorodne testy punktów końcowych, kinetycznych, spektralnych i skanowania powierzchni.

Producent:

Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-M

Zapytaj o produkt

Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-M

Spektrofotometr mikropłytkowy LTEK™ INNO-M jest urządzeniem nowej generacji XXI wieku, przeznaczonym do wszystkich badań zajmujących się absorbancją i luminescencją. Umożliwia różnorodne testy punktów końcowych, kinetycznych, spektralnych i skanowania powierzchni.

Wyniki są dostarczane szybko i wygodnie prezentowane w programie Microsoft Excel, co pozwala na bezpieczne zapisywanie danych wynikowych i zarządzanie nimi.

Spektrofometry mikropłytkowe INNO i INNO-M bazują na monochromatycznej technologii pomiarowej, która pozwala na wprowadzenie badań na wyższy poziom.

INNO-X, czyli oprogramowanie dla INNO i INNO-M, posiada rozbudowane funkcje z dużą dokładnością danych wynikowych.

Wygoda INNO-X polega na tym, że użytkownicy końcowi mogą pobrać oprogramowanie ze strony internetowej LTEK w dowolnym czasie i miejscu, co daje możliwość aktualizacji oprogramowania za każdym razem, gdy dostępna jest nowa zaktualizowana wersja.

Czytnik mikropłytek INNO-M  jest przyjazny w obsłudze, posiada wszelkie niezbędne certyfikaty (ISO 9001/ISO 14001, RoHS) oraz oznakowanie CE.

  • Zakres pracy 200-999 nm
  • Wybór długości fali
  • Lampa Xenon Flash
  • Posiada 2 tryby – absorbancja, luminescencja
  • Dodatkowe akcesoria – wykorzystanie NANO-VC na 24 płytki mikroobjętościowe do badań DNA/RNA, co pozwala przeprowadzić jednoczesny odczyt wielu próbek w tym samym czasie.

Absorbancja

 

Układ optycznyPojedyńcza wiązka
Źródło światłaXenon Flash
Detektorfotodioda
Zakres długości fal200-999 nm
AplikacjeSpectral scaning, End point, Kinetic, Area scan
Dokładność długości fali± 2 nm
Powtarzalność długości fali0-2 OD +1%
Zakres fotometryczny0-4.0 OD
Dokładność fotometryczna0-2 OD +-1%
Powtarzalność fotometryczna0-2 OD +-1%
Komora próbki6-384 mikropłytki
DNA/RNA 24 płytki mikroobjętościoweProbówki 2 µl/Kuweta
Wytrząsanie2 stopnie prędkości
SoftwareINNO-X (Microsoft Windows)
Zasilanie100 do 240 V, 50/60 Hz, 65 W
WymiarySz. 33,3 cm x dł. 30,3 cm x gł. 24,5 cm
Waga8 kg

Luminescencja

 

DetektorFotopowielacz (PMT)
Zakres długości fal300-700 nm
Szczytowa długości fali420 nm
Limit detekcji3 x 10-21 moli

 

Broszura Ltek INNO-M

Katalog LTek