Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-H

Spektrofotometr mikropłytkowy LTEK™ INNO-H to zaawansowane urządzenie do analizy absorbancji, luminescencji i fluorescencji. Wyposażony w monochromator i filtry, umożliwia precyzyjne pomiary w zakresie 230–999 nm. Posiada opcję kontroli temperatury (do 45°C), funkcję mieszania oraz kompatybilność z różnymi płytkami.

Spektrofotometr mikropłytkowy INNO-H

Zapytaj o produkt

Spektrofotometr INNO-H jest nowoczesnym urządzeniem firmy LTek, przeznaczonym do precyzyjnych badań w zakresie absorpcji, luminescencji oraz fluorescencji w dwóch trybach.

Tryb Absorbancji – wykorzystuje monochromator i lampę ksenonową do pomiarów w zakresie 230–999 nm, zapewniając wysoką dokładność i powtarzalność wyników.
Tryb Luminescencji – umożliwia analizy przy użyciu monochromatora lub filtrów, dostosowując czułość do specyficznych zastosowań.
Tryb Fluorescencji (monochromatorowa) – pozwala na regulację długości fali i szerokości pasma, oferując elastyczność w doborze parametrów eksperymentalnych.
Tryb Fluorescencji (oparta na filtrach) – zapewnia wyjątkową czułość detekcji i wysoką selektywność sygnału dzięki zastosowaniu precyzyjnie dobranych filtrów dichroicznych.

Czytnik płytek obsługuje różne tryby odczytu, w tym pomiary punktów końcowych, kinetyczne, skanowanie spektralne oraz powierzchniowe. Dodatkowo oferuje regulację temperatury, funkcję mieszania oraz kompatybilność z szeroką gamą mikropłytek.

Jest przyjazny w obsłudze, posiada wszelkie niezbędne certyfikaty (ISO 9001/ISO 14001, RoHS) oraz oznakowanie CE.

Ogólne

 

Tryby detekcji  UV-Vis Absorbcja, Intensywność fluorescencji (Monochromator), Intensywność dichroiczna (Filtr),Polaryzacja fluorescencji (Filtr), TRF (Time-Resolved Fluorescence), Luminescencja (Monochromator/Filtr)
Metody odczytu Spectral scaning, End point, Kinetic, Well-Area scan
Rozmiar S408xD390xW240mm
Waga 25kg
Typ mikropłytek od 6 do 384 mikropłytek
Inne  NANO-VC, INNO-QM
kontrola temperatury Do 45 °C ± 0.2 °C przy 37 °C
Wytrząsanie Linearne, Orbitalne oraz Podwójne orbitalne z 4 stopniami prędkości
Oprogramowanie  INNO-X™ (Microsoft windows) / INNO-XS™ (opcjonalne)

 

Absorbcja

Źródło światła Xenon flash
Detektor fotodioda
Wybór długości fali  Filtry
Zasięg długości fali  230 – 999 nm co 1 nm
zakres fotometryczny  0 ~ 4.0 OD
 Rozdzielczość  0.0001 OD
 Korekta wiązki  Yes
Dokładnośc fotometryczna  ±2 nm
Powtarzalność fotometryczna  ±0.2 nm
Liniowość OD  <1% from 0 to 3.0 OD
powtarzalność długości fali  < 0.5% at 2.0 OD

 

Intensywność fluorescencji

Żródło światła  Xenon flash
 Detektor  PMT
Wybór długości fali  Fotometr (Bandwidth Variable Option)
zasięg długości fal  250 ~ 700 nm (Opcjonalnie 850 nm)
Zakres  >7 dekad
 Sensitivity Góra 2.5 pM, Dół 5 pM (96-dołkowa)

 

Polaryzacja fluorescencji

Czułość  Xenon flash
Wybór długości fal  Filtry
Zasięg długości fal  400 ~ 700 nm
Detektor  PMT

 

Luminescencja

Czułość  10 amol ATP (filtr) / 20 amol ATP (Fotometr)
Wybór długości fal  200 ~ 750 nm (Opcjonalnie 850 nm)
Zasięg  >7 dekad
System detekcji Niski poziom PMT

Katalog Ltek

INNO-H_broszura